工业上唯一的清洁度测试系统包含的功能：
-污染物总量
-污染物位置
-污染物成份

C3离子浓度测试仪有别于市场上其他测试仪。C3是第一个可以检查残留在PCB板局部的污染物的设备。通过对任一0.1平方英寸（测试头面积）表面的分析，C3离子清洁度测试仪可以立即反馈此部分是否“清洁”。选择C3测试点时，允许用户去观察一些特殊的元件或有明显敏感物区域的线路。

如果将C3应用到生产线，污染物残留会被高效快速的发现。此测试系统设计高效，可提供实时过程追踪数据，这一点是其他测试设备无法比拟的。机器带有用户友好界面的触摸屏，C3可查出需要深入分析的问题区域，当有需要深入分析的地方，用户可以让C3收集样品，通过深入分析来确定污染物成分。

C3唯一拥有可以确定某一种污染物的污染位置，污染程度及污染物成分的清洁度测试方法。C3可以收集并储存析取的污染物样品。也可以将此样品送入实验室，通过离子色谱仪做进一步鉴定。

应用：
◆局部清洁度测试
◆从PCB板中萃取离子污染物
◆模拟野外使用环境，测试离子污染对电性能 的影响
◆给出“清洁”或“受污染”判断
◆萃取污染物用于后续分析，检测离子污染量及污染类型

原理：
◆更多的离子污染物会导致更快的电腐蚀和泄漏
◆良好的、绝缘性的污染物需要很长的时间形成电泄漏结果
◆通过15年的SIR测试法及ion chromatography测试法数据统计，建立与C3测试数据的关联，确定判断“受污染”和“清洁”的标准
◆参考与过程控制相同的污染标准数据库，建立500微安的C3电泄漏标准